TC溫度循環

溫度循環
影響篩選結果的主要參數為溫度變化范圍、溫度變化速率及循環次數。通常適用于組件級篩選。篩選溫度時間歷程考慮受篩產品通電和不通電兩種情況。激發的故障模式主要有：
a)使涂層、材料或線頭上各種微觀裂紋擴大。 b)使粘結不好的接頭松弛。
c)使螺釘連接或鉚接不當的接頭松弛。 d)使機械張力不足的壓配接頭松弛。
e)使質量差的釬焊接觸電阻加大或造成開路。 f)粒子污染。
溫度沖擊
影響篩選結果的主要參數為溫度變化速率、溫度轉換時間及溫度沖擊循環次數。因其溫度變化率較高，產生的熱應力較大，是篩選元器件，尤其是集成電路器件的有效方法。用于組裝等級時要注意其可能造成的附加損壞。篩選效果類似于溫度循環。激發的故障模式類似于溫度循環。
溫度轉換時間
溫度轉換時間準確地說，應該是樣品從一個恒溫區轉移到另一個恒溫區的時間。這里應該注意的是變化的兩端都是恒溫區。對不同類型的chamber，兩個恒溫區有著不同的界定：
三箱換氣式的冷熱沖擊箱：高溫區--->測試區---->低溫區， 其工作方式為先預熱，使高溫區和低溫區達到設定的條件（此溫度一般比測試條件的高溫和低溫放大10度左右）。測試開始后，高溫區和低溫區將輪流向測試區沖入高溫或低溫氣流。所以轉換時間應該為測試區從前一恒溫點到下一恒溫點的時間，包括充氣時間，溫度變化時間。
三箱吊籃式冷熱沖擊箱：轉換時間應該包括，吊籃從一箱移到另一箱的時間+目標箱內從新恢復設定溫度時間。一般而言，吊籃移動時間很短，所以轉換時間主要決定于目標箱內恢復設定溫度的時間。這個時間一般也不會超過兩分鐘。所以在對溫度轉換時間有確定要求的測試中，建議設定一個中位箱的停留過程，中位箱的溫度和停留時間需要根據測試要求，chamber的性能作具體調整。但一般以不超過3分鐘為宜。

對TCT和TST的看法
TCT和TST主要是看其溫變率的多少來判定其是什么測試的。 TCT的溫變率：<=20C/min TST的溫變率：>20C/min
一般來講有區分溫度循環柜和溫度沖擊柜，但有的溫度沖擊柜即能做TST也能做TCT，在這里就是看你把溫變率調節到多少來看了。 對于溫度沖擊柜有兩種：兩箱式和三箱式
兩箱式：只有高溫區和低溫區，其轉換時間一般很短，根據設備廠家當初設定的值，我所遇到的兩箱式試驗機其轉換時間就只有10秒。但是這10秒并不是瞬間就是產品升/降溫的時間，而是樣品從冷箱到熱箱或熱箱到冷箱的過程。 三箱式：有高溫區-待測區-低溫區。這種試驗柜一般都是以送風式的來升降溫度的，當低溫升高溫時則低溫區關閉送風開啟高溫區送風。在這里的轉換時間就是根據高低溫的溫差和溫變率來確定的。