芯片加速老化測試（HAST）與芯片高溫工作壽命測試HTOL

芯片加速老化測試（HAST）與芯片高溫工作壽命測試（HTOL）

芯片加速老化測試（HAST）：

隨著芯片進入汽車、云計算和工業物聯網市場，隨著時間的推移，芯片想要實現目標的功能將變得越來越難以實現，這也成為開發人員關注的焦點。芯片自始至終都在運行，IC內部模塊也一直在加熱，導致老化和加熱速度，也許會帶來各種未知的問題。因此，芯片設計公司會在芯片出廠前進行芯片加速老化測試（HAST）從而篩選和測試更好的良片。

芯片的使用壽命分為三個階段。由于制造、設計等原因，**階段是初始故障：故障率高。**階段是故障：設備故障機制產生的故障率很低。第三階段：突破故障，故障效率高。對于新產品的可靠性，wafer、晶圓廠/密封試驗廠通常控制封裝、測試和批量生產的可靠性，與舊產品沒有太大區別。

在封裝、運輸和焊接過程中，評估芯片在溫度和濕度方面的耐久性**于非密封包裝（塑料密封）。在封裝裝可靠性試驗之前，模擬內部水蒸氣在芯片長期儲存條件下對內部電路、高溫和時間的影響。塑料密封僅分為帶偏置（hast）和無偏置uhast測試，uhast需要提前PC處理。

溫濕度高加速應力試驗(HAST)加速了與85°C/85%相對濕度測試失效機制相同。典型的測試條件是130°C加壓和非冷凝/85%相對濕度。通過外部保護材料部保護材料（包裝或密封）或金屬導體通過外部保護材料和金屬導體之間的界面。在高加速度的溫濕度應力試驗前，對表面安裝裝置的樣品進行預處理和*終電氣試驗。

芯片高溫工作壽命測試HTOL）：

隨著國家對集成電路產業的大力支持，國內集成電路產業**發展，一路飆升，集成電路設計公司、晶圓廠、封測廠等相關企業數量急劇增加，整個集成電路產業快速定位，令人滿意的集成電路質量也得到了****的關注，與質量可靠性測試密切相關，也成為首要任務，如何完善*重要的可靠性測試：高溫工作壽命測試或HTOL）。

整個HTOL每個環節都非常重要。一旦某一環節出現問題，導致芯片故障，將直接導致大量的人力、物力和財力綜合分析相關原因。而且由于老化過程數據不足，難以分析具體原因。此外，由于老化測試周期長，許多公司很難承受重新進行老化測試的時間成本。因此，對于老化試驗，從樣品的選擇和測試、老化板方案的設計、外圍設備的選擇、PCB板設計畫板制作，老化試驗調試，setup，電操作、過程監控等諸多細節都需要特別小心。