TSD/TSM/TSDM系列溫度沖擊試驗箱

溫度沖擊試驗箱主要用于設備零部件、汽車配件、金屬制品、化工材料、電子芯片、高分子材料等相關行業必備的檢測設備，可用于測試材料或元器件在瞬間的高溫或低溫連續的環境下物理性能的可靠性，也可以用于環境應力篩選（溫度循環）、高/低溫環境適應性和可靠性試驗，對各種大型電工電子產品用于發現早期故障、模擬實際溫度與快溫變環境和考核產品耐受溫度的能力。

我公司生產的溫度沖擊試驗箱分為三種類型：兩廂式、三廂式和兩廂移動三溫區。主要的區別在于試驗方法、樣架移動方式及內部結構，可適用于多種使用條件及不同行業用戶的需求。

滿足如下試驗方法：

GB2423.1-08 試驗A：低溫試驗方法

GB2423.2-08試驗B：高溫試驗方法

GJB150A.5-09 溫度沖擊試驗

產品執行標準：

GB10589-2008 低溫試驗箱技術條件

GB11158-2008 高溫試驗箱技術條件

GB10592-2008 高低溫試驗箱技術條件